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介电常数介质损耗测试仪

简要描述:介电常数介质损耗测试仪由HJS-I型高频Q表、AS916测试装置(夹具)、数据采集和tanδ自动测量控件(装入HJS-I型高频Q表软件模块)、及HLKI-1型电感器组, 液体杯(可选,用于测试液态材料)组成。
高频介质损耗(介电常数)测试系统依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提

  • 产品型号:HJS-I
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-06-04
  • 访  问  量: 1343

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详细介绍

介电常数介质损耗测试系统方案

高频介质损耗(介电常数)测试系统由HJS-I型高频Q表、AS916测试装置(夹具)、数据采集和tanδ自动测量控件(装入HJS-I型高频Q表软件模块)、及HLKI-1型电感器组, 液体杯(可选,用于测试液态材料)组成。

介电常数介质损耗测试仪依据国标GB/T 1409-2006GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的最佳解决方案。

介电常数介质损耗测试仪配置方案如下表:

主机

HJS-I高频Q

测试装置

AS916

HLKI-1型电感器组

9

试验液体杯

可选

                                         

1 HJS-A+AS916+HLKI-1电感组配置及参数:

         

测试频率范围

10KHz-70MHz, LCD显示,6位有效数 ,DDS数字合成

Q值测量范围

1~1000四位数显,±0.1Q分辨率

可调电容范围

28490pF 0.1pF分辨率

电容测量误差

±0.5%±0.5pF

Q表残余电感值

20nH

AS916测试装置

屏幕5位数显,极片为φ38和φ50二选一,支持液体杯测试, 液体杯测试极片为φ38

数据采集和tanδ自动测量控件

支持

技术参数

1Q值测量

  aQ值测量范围:21023

  bQ值量程分档:301003001000、自动换档或手动换档。

  c.标称误差

频率范围         10kHz10MHz

固有误差        5%±满度值的2%;

工作误差        7%±满度值的2%;

频率范围          10MHz70MHz

固有误差         6%±满度值的2%;

工作误差        8%±满度值的2%。

2)电感测量范围:14.5nH~8.14H

3)电容测量:1~ 460

   

直接测量范围  1460pF

主电容调节范围  30500pF

    150pF以下±1pF

150pF以上±1

4)信号源频率覆盖范围

   

频率范围 10kHz70MHz

频率分段(虚拟)     1099.9999kHz

100999.999kHz

19.99999MHz

1070MHz    

频率指示误差              3×10-5±1个字

5Q合格指示预置功能

  预置范围:51000

6Q表正常工作条件

    a.  环境温度:0℃~+40℃;  

b.相对湿度:<80%;  

c.电源:220V±22V50Hz±2.5Hz

4、设备配置:

a.测试主机一台;

b.电感9只;

c.夹具一套  



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